使用NI PXI源测量单元，实现更智能的测试
editor Chen -- 周二, 07/26/2016 - 14:19
NI为自动化测试和实验室特性分析应用提供了各种源测量单元(SMU)。 这些SMU兼具传统台式SMU的功能和测量性能，同时采用NI技术，使其更小巧、更快速且更灵活。 NI SMU小巧的组成结构和模块化特性使其成为并行IV测试系统重要仪器，可帮助您在19英寸4U机架空间内开发高达68个通道的高通道数解决方案。
NI为自动化测试和实验室特性分析应用提供了各种源测量单元(SMU)。 这些SMU兼具传统台式SMU的功能和测量性能，同时采用NI技术，使其更小巧、更快速且更灵活。 NI SMU小巧的组成结构和模块化特性使其成为并行IV测试系统重要仪器，可帮助您在19英寸4U机架空间内开发高达68个通道的高通道数解决方案。