玩转开关时间、谐波、互调失真测试？这一篇就够了！
cathy -- 周三, 07/11/2018 - 10:12
关于射频芯片测试的那些事
NI
到底怎么测试插入损耗、隔离度和驻波比，其实很简单！
cathy -- 周二, 07/10/2018 - 09:24
我们发布了射频芯片测试重要性的文章后插入损耗、隔离度、开关时间、谐波……哪个是射频开关测试痛点？ 就有粉丝在后台问，在射频芯片测试中一头雾水，能不能具体讲解下各个测试
插入损耗、隔离度、开关时间、谐波……哪个是射频开关测试痛点？
cathy -- 周一, 07/09/2018 - 09:21
也许大家已经注意到，随着无线设备复杂性急剧增加，手机支持的频段数量也在不断增加。从最开始的2个GSM频段，到现在的4个GSM频段，3个CDMA频段，5个UMTS频段和10个LTE频段。未来，诸如5G New Radio等标准将继续增加无线设备的复杂性。开关是射频前端模块（RF FEM）切换多个频段的关键元件，所以，我们今天要讨论的话题就是射频开关测试方法
4种智能测试方法，让您保持领先优势
cathy -- 周五, 03/16/2018 - 11:05
作者：NI高级产品营销经理Jonah Paul
回想您过去作为工程师的一年：您的角色发生了何种变化？ 过去五年又发生了哪些变化？ 随着技术变革的步伐不断加快，您必须调整工作的各个方面，并提高效率。
使用NI PXI源测量单元，实现更智能的测试
editor Chen -- 周二, 07/26/2016 - 14:19
NI为自动化测试和实验室特性分析应用提供了各种源测量单元(SMU)。 这些SMU兼具传统台式SMU的功能和测量性能，同时采用NI技术，使其更小巧、更快速且更灵活。 NI SMU小巧的组成结构和模块化特性使其成为并行IV测试系统重要仪器，可帮助您在19英寸4U机架空间内开发高达68个通道的高通道数解决方案。