驻波比

到底怎么测试插入损耗、隔离度和驻波比,其实很简单!

我们发布了射频芯片测试重要性的文章后插入损耗、隔离度、开关时间、谐波……哪个是射频开关测试痛点? 就有粉丝在后台问,在射频芯片测试中一头雾水,能不能具体讲解下各个测试

插入损耗、隔离度、开关时间、谐波……哪个是射频开关测试痛点?

也许大家已经注意到,随着无线设备复杂性急剧增加,手机支持的频段数量也在不断增加。从最开始的2个GSM频段,到现在的4个GSM频段,3个CDMA频段,5个UMTS频段和10个LTE频段。未来,诸如5G New Radio等标准将继续增加无线设备的复杂性。开关是射频前端模块(RF FEM)切换多个频段的关键元件,所以,我们今天要讨论的话题就是射频开关测试方法