CRC

在嵌入式产品应用中，常常需要应对系统数据在存储或者传输过程中的完整性问题。

所谓完整性是指数据在其生命周期中的准确性和一致性。这些数据可能存储在EEPROM/FLASH里，或者基于通信协议进行传输，它们有可能因为外界干扰或者程序错误，甚至系统入侵而导致被破坏。如果这些数据在使用前不做校验，产品功能可能失效。在一些特定领域，严重时可能会危及用户财产甚至生命安全。

本文就来聊聊使用较为广泛的循环冗余校验技术，以及在STM32中的一些具体使用体会。

所谓循环冗余校验（CRC：Cyclic Redundancy Check）是一种错误检测算法，通常在通信协议中或存储设备中用于检测原始数据的意外变动。可以简单理解成对有用数据按照一定的算法进行计算后，提取出一个特征值，并附加在有用数据后。在应用中将有用数据按照特定的算法提取特征值与预先存储的特征值进行比对，如相等则校验通过，反之校验失败，从而识别出数据是否异常。

为何要校验数据完整性(Data Integrity)？

数据在存储以及传输的过程中可能发生异动。以数据通信应用场景为例，常见的错误大致有两种失效模式：

单个位错误(Single Bit Error)：仅仅某一个数据位出现错误，如图：