cathy -- 周五, 10/20/2017 - 09:40 在许多基于单片机的应用中,单片机都受到各类电磁噪声的影响。电气噪声可能导致应用出现异常行为。其中的两种噪声事件分别称为静电放电(ElectrostaticDischarge,ESD)和电过载(Electrical Overstress,EOS)。本应用笔记讨论了这两种事件、导致这些事件的原因以及如何最大程度降低它们对应用的影响。 想了解更多详情内容请点击下载:ESD和EOS的原因、差异及预防 点击下载 100008475-28379-00001785acn.pdf